제품소개

형광X선 도금두께 측정기 X-STRATA920


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반도체 검출기를 탑재하여, 플래시 금(Au) 도금의 두께 측정과 무전해 니켈(Ni) 도금의 

인(P) 농도 측정 등 비례계수관 모델에서는 측정이 어려운 어플리케이션에 대응 가능합니다.

또한 여러 종류의 스테이지나 콜리메이터를 선택하여 최적의 장비 구성을 제공합니다.


 

 

  

26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 1. 반도체 검출기 탑재 모델 

    Al(13)에서 U(92)까지의 원소에 대응. 플래쉬 Au도금의 두께측정 및 무전해 Ni도금의 두께 및

    P 농도의 동시측정 등에 적합합니다.




26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 2. 다양한 종류의 콜리메이터

    15개 이상의 콜리메이터 중 최대 6개까지 선택이 가능합니다.

 

 

 

26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 3. 샘플에 따른 시료 스테이지

    전동 대형 샘플용 높이있는 샘플용 등 샘플 형상 및 운영에 따른

    최적의 스테이지를 선택할 수 있습니다.

 

 

 

26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 4. 간단한 소프트웨어

    시료 이미지와 작업명령, 측정 결과 등을 한 화면에 보기쉽게 배치하고 있습니다.

    운영자에게 필요한 정보만 표시하도록 하는 등의 사용자 정의가 용이합니다.

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26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 5. 손쉬운 측정조건의 설정

    대표적인 응용 프로그램이 미리 설정되어 있으므로 선택한 응용 프로그램의 설정에 따라

    표준 물질을 측정하는 것만으로 쉽게 분석 조건을 만들 수 있습니다.




26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 사양 

측정 원소Al (Z=13) ~ U (Z=92)
X 선 관구W Target
관전압 : 50㎸, 관전류 : 1.0㎃
검출기실리콘 드리프트 검출기 (SDD)
콜리메이터단일 또는 다중 (Max 6 종류까지)
최소 : 0.025 × 0.051 ㎜
최대 : 0.51 ㎜Φ
소프트웨어Windows 10
응용 프로그램

정성 분석, 단층 및 복층 두께 (최대 5 층, 15 원소), 2 성분 합금 단층 막,

도금액 측정 (옵션)

스테이지 구성
표준 스테이지

표준 스테이지

최대 시료 높이 : Max 16 ㎜
장비 크기 : 407 (W) × 770 (D) × 305 (H) ㎜

미니웰

미니웨루

베이스 플레이트 위치 4 단계 가변
최대 시료 높이 : Max 143 ㎜
장비 크기 : 407 (W) × 770 (D) × 400 (H) ㎜

와이드 스테이지

와이드 무대

기본 사이즈 : 560 ㎜ × 610 ㎜ (고정)
최대 시료 높이 : Max 16 ㎜
장비 크기 : 610 (W) × 1037 (D) × 305 (H) ㎜

전동 스테이지

전동 무대

스테이지 크기 : 560 ㎜ × 610 ㎜ (전동)
스테이지 이동거리 : 178 ㎜ × 178 ㎜
최대 시료 높이 : Max 16 ㎜
장비 크기 : 610 (W) × 1037 (D) × 375 (H) ㎜

 

 

 

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