제품소개

형광X선 도금두께 측정기 FT160 Series


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FT160은 전자 부품의 나노 오더 레벨 코팅(nano-order level coating) 두께 측정에서

높은 정확성과 높은 처리량을 실현한 폴리캐필러리타입의 고성능 SDD 검출기가 장착된

Hitachi High-Tech Science社의 최신 형광X선 도금두께 측정기 하이엔드 모델입니다.


 

 

  

26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 1. 고성능 폴리캐필러리 채용 

    약 30㎛Φ (FWHM : 17㎛*)의 고휘도 1차 X선을 조사(照射)하여 고정밀 측정을 실현하였습니다.

    (*MnKa에 대해)




26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 2. 고성능 반도체 검출기(SDD)의 탑재

    고계수율 반도체 검출기(SDD)를 탑재하여 정밀 측정을 실현하였습니다.

 

 

 

26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 3. 이미지 처리 소트트웨어에 의한 자동측정 어시스트 기능

    정확한 다점자동측정에 의한 고효율화를 실현하고 있습니다.

 

 

 

26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 4. 심플한 소프트웨어 디자인과 도움말 기능으로 간편한 조작성

    일상 측정은 등록된 응용 프로그램을 이용하여 쉽게 측정할 수 있습니다.

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26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 5. 작업자의 안전을 배려한 장치 디자인

    X선 노풀 위험이 매우 적은 밀폐형 케이스를 채용하고 있습니다. 또한, 도어의 대형 관찰창을

    탑재하여 시료의 시인성과 조작성을 추구했습니다.

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26d21e5d7825ab458d76582388b248f0_1581057021_3798.png 사양

형식

FT160S

FT160Sh

FT160

FT160h

FT160L

FT160Lh

X

발생원

표준

고에저지

표준

고에저지

표준

고에너지

Mo

W

Mo

W

Mo

W

측정원소

Al(13)~U(92)

스테이지 크기

()

300 (W) × 245 (D)

420 (W) × 320 (D)

620 (W) × 620 (D)

최대 시료 크기

()

300 (X) × 245 (Y) × 80 (Z)

400 (X) × 300 (Y) × 100 (Z)

600 (X) × 600 (Y) × 20 (Z)

 

 

 

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